E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.

Risultati trovati: 48
Nome
Descrizione
Laboratorio
Prov.

Indagini fonometriche per la determinazione dell’inquinamento acustico ambientale

BO

Misure rumore

BO

Misure di Radiazioni Ottiche Artificiali 

Strumento IBM che permette di eseguire test di singoli componenti sw o di più componenti di un sw. Per linguaggi C/C++ e ADA

BO

Modulo del software Reliability Workbench per la stima delle probabilità / frequenze di accadimento degli scenari indesiderati mediante Alberi dei

BO

Sistema per studio di monostrati di molecole anfifiliche.

MO

Misure parametri microclimatici (illuminamento) 

BO

Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.

MO

Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .

MO

Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.

MO

Microscopio elettronico in trasmissione  con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento

MO

Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.

MO

Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.

MO

Sistema di misura di Campi Elettromagnetici

 

BO

Misuratore illuminamento

BO

Apparato per la caratterizzazione del folding e misfolding di singole proteine, e dei meccanismi attraverso i quali singole biomolecole interagisco

MO

Esperimenti in campo magnetico e sotto l'azione di campi em con frequenze sino a 20 GHz. Esperimenti a basse temperature.

MO

Deposizione PVD di film sottili a partire da target sia ceramici che metallici tramite RF e DC magnetron sputtering, sputtering reattivo (N2 atmosp

MO

Sistema di litografia a fascio elettronico e microscopio elettronico a scansione.

MO

Misure di caratterizzazione elettrica su nanodispositivi con basso rumore e con possibilità di lavorare a temperatura variabile e in vuoto. 

MO