Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Analizzatore Dinamico Meccanico adatto per lo studio delle proprietà viscoelastiche di materiali polimerici
Analisi termica ad alta temperatura (2.400°C)
Strumento per la caratterizzazione di molti tipi di materiali tra cui polimeri, metalli e materiali ceramici
Strumentazione per la determinazione della resistenza all'erosione di materiali e rivestimenti - max. temperatura raggiungibile 1000°C
CMM DEA – Global Status 07.05.05 con cabina termostatata, testa di misura motorizzata Renishaw PH10 e sistema di programmazione offline, per misure
Sistema per acquisizione di campi di velocità istantanei tridimensionali in fluidi in moto.COMPONENTI: &nb
Modifica superficiale di materiali
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.