Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Camera climatica adatta per eseguire test di antigelività su piastrelle, tegole o manufatti simili.
Un colorimetro è uno strumento sensibile alla luce che misura la quantità di colore che viene assorbito da un oggetto o di una sostanza
La cromatografia ionica è una tecnica che consente l’identificazione e la quantificazione di uno o più cationi o anioni in soluzione acquosa.
La resistenza di un materiale ceramico è determinata mediante prove di flessione a 3 o 4 punti.
Dinamometro SCOF
Per studiare, mettere a punto e caratterizzare i vari materiali, è necessario poter effettuare trattamenti termici anche a temperature
Questo strumento permette al laboratorio di effettuare una determinazione sia qualitativa, sia quantitativa degli elementi presenti in
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.