Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Software per lo sviluppo di analisi CFD in svariati campi di applicazione, ad es: simulazione di batteria, cavitazione, raffreddamento motore elett
Software per la soluzione di problemi di ingegneria strutturale mediante modelli ad elementi finiti, ad es.: Analisi non lineari, Analisi dinamiche
Pacchetto sw di Ansys per la progettazione Model-Based di software critici: Scade Architect interviene nella fase di Design del sw, Scade Suite è u
Programma di progettazione termotecnica dedicato al calcolo delle prestazioni termiche dell’edificio, dai fabbisogni energetici e alla potenza di p
Programma per il calcolo delle conseguenze di danno a seguito di rilasci di sostanze pericolose
Indagini fonometriche per la valutazione dell’inquinamento acustico ambientale e del rischio da esposizione al rumore per i lavoratori e determinaz
Strumento IBM che permette di eseguire test di singoli componenti sw o di più componenti di un sw. Per linguaggi C/C++ e ADA
Modulo del software Reliability Workbench per la stima delle probabilità / frequenze di accadimento degli scenari indesiderati mediante Alberi dei
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.
Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.