Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
La metrologia delle superfici svolge due ruoli: il controllo in fase di produzione (sia di processo che delle apparecchi
Le prove di reologia costituiscono uno strumento indispensabile per il controllo del processo industriale e per lo svilu
Deposizione PVD di film sottili a partire da target sia ceramici che metallici tramite RF e DC magnetron sputtering, sputtering reattivo (N2 atmosp
Sistema di litografia a fascio elettronico e microscopio elettronico a scansione.
Misure di caratterizzazione elettrica su nanodispositivi con basso rumore e con possibilità di lavorare a temperatura variabile e in vuoto.
Sistema per la crescita fisica e la deposizione di nanocluster metallici, compositi e semiconduttori (2-20 nm in diametro) preformati e selezionati
Banco ottico per spettrofotometria.
Campi di applicazione : Caratterizzazione ottica di film sottili.
L'analisi del COD o la determinazione del Cromo (6+) prevede una misura colorimetrica. Tramite misure colorimetriche è p
Lo spettrometro "miniaturizzato", robusto e versatile, adatto anche per campioni solidi, consente di eseguire misure di riflessione e
La tavola a scosse consente di determinare la le caratteristiche reologiche di impasti freschi di paste, adesivi e malte, mediante quantificazione
Lo studio delle reazioni chimiche al variare della temperatura è di fondamentale importanza per lo studio della cottura dei prodotti.