Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.

Results: 30
Name
Description
Laboratory
Province

3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.

FE

Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS)  e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A

MO

Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi

MO

Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.

MO

Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.

Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde

MO

Braccio portatile per misure 3D. Diametro operativo 2400 mm.

MO

Programmma avanzato per la progettazione meccanica 3d

MO

Programma per la simulazione dei percorsi utensili per CNC a 5 assi (lavorazione per asportazione di truciolo).

MO

Cappa a flusso laminare orizzontale per attività in cui si renda necessario proteggere il prodotto da effetti dannosi provenienti dalla diffusione

MO

Centro di lavoro a 5 assi per lavorazioni meccaniche nell'ambito di sviluppo prototipi e attività di ricerca.

MO

Centro di lavoro a 5 assi per lavorazioni meccaniche nell'ambito di sviluppo prototipi e attività di ricerca

MO

Helium leak detector per misurare livello di tenuta di sistemi in pressione.

MO

Sistema per studio di monostrati di molecole anfifiliche.

MO

Misure tridimensionale e reverse engineering di componenti meccanici. Fornita di software di acquisizione Capps Dimis.

MO

Macchina per lavorazioni a 5 assi per asportazione di truciolo. FUnzionalità tornio+fresa.

MO

Marcatrice laser per serializzazioni su metalli.

MO

Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.

MO

Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .

MO

Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.

MO

Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.

MO