Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Machina di ispezione a raggi X per schede e componenti elettronici, con dimensioni massime della scheda di 40 x 40 cm.
Macchina per la rilavorazione dei circuiti integrati SMD, con la rimozione ed il ripristino sulla scheda guidato da telecamera.
Simulatore di impulsi e burst di disturbo sulla rete a 230V
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.
Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.
Misuratore di campi magnetici su tre assi con frequenze comprese fra 2KHz e 400 KHz, 2 range da 140 e 1400 nT fondo scala.
Multimetro da laboratorio, programmabile, 6,5 cifre. Misura tensione, corrente, resistenza.
Analizzatore di reti in radiofrequenza fino a 20GHz dotato di parametri S e di misura "Time domain", 50 OHM.
Misuratore di Reti e di componenti elettronici fino a 6 GHz.
Misuratore di Figura di rumore su dispositivi elettronici, quali amplificatori, semiconduttori e circuiti passivi.