Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Programma di progettazione termotecnica dedicato al calcolo delle prestazioni termiche dell’edificio, dai fabbisogni energetici e alla potenza di p
Programma per il calcolo delle conseguenze di danno a seguito di rilasci di sostanze pericolose
Indagini fonometriche per la valutazione dell’inquinamento acustico ambientale e del rischio da esposizione al rumore per i lavoratori e determinaz
Indagini fonometriche per la determinazione dell’inquinamento acustico ambientale
Forno a muffola per pirolisi e trattamenti termici in atmosfera inerte, fino a 1000 °C.
Dimensioni camera: 170 x h110 x p300 mm
Forno a muffola per calcinazione, decomposizioni termiche e trattamenti termici. Temperatura fino a 1100°C in atmosfera ARIA.
Forno per invecchiamenti termici in aria o in liquidi ad immersione. Controllo della temperatura statico o a rampe da t. amb. a +250 °C.
Strumento IBM che permette di eseguire test di singoli componenti sw o di più componenti di un sw. Per linguaggi C/C++ e ADA
Modulo del software Reliability Workbench per la stima delle probabilità / frequenze di accadimento degli scenari indesiderati mediante Alberi dei
Prove meccaniche di trazione, compressione e flessione fino a 50 kN, con estensimetro a contatto.
Macchina ottica per controllo dimensionale senza contatto.
Consente di effettuare prove statiche (trazione, compressione, flessione, ecc.) e dinamiche (fatica, con frequenze di prova nominali fino a oltre 1
Consente di effettuare prove statiche (trazione, compressione, flessione, ecc.) e dinamiche (fatica, con frequenze di prova nominali fino a oltre 1
Consente di effettuare rilievi di microdurezza (su campioni metallici e su rivestimenti) con scala Vickers e Knoop e carichi tra 10 e 1000 g.
Microscopio a forza atomica capace di lavorare in contact mode e non-contact mode per analisi su campioni di vario tipo.
Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e fi
Consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre e film, per identificare