Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Microscopio a forza atomica capace di lavorare in contact mode e non-contact mode per analisi su campioni di vario tipo.
Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e fi
Consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre e film, per identificare
Microscopio ottico avanzato per osservazione diretta a basso ed alto ingrandimento, su campioni anche di grandi dimensioni.
Il microscopio ottico polarizzatore a luce trasmessa è un microscop
Realizzare prototipi rapidi con tecnologia FDM (polimeri di base, polimeri tecnici caricati, gomme).
Il microscopio elettronico a scansione SEM, è uno strumento attraverso il quale è possibile condurre indagini di tipo microinvasivo su different
Sistema di acquisizione a 16 canali con suite software HBM per analisi estensimetrica (strain gauge).
Consente di ricavare la composizione chimica quantitativa di leghe metalliche e quindi di verificarne la conformità e classificale secondo le norma
Dotazione completa di strumenti per il controllo dimensionale dei prodotti e per il reverse engineering dimensionale.
Sistemi di acquisizione sperimentale e controllo LABVIEW - NATIONAL INSTRUMENTS per set-up specifici.
SUITE SOLIDWORKS per modellazione 3D e simulazioni ad elementi finiti.
Il diffrattometro per polveri consente l’identificazione delle fasi cristalline presenti in differenti tipologie di materiali, sia su materiali di