E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
Zeiss Z1 AxioObserver è un microscopio a fluorescenza inversa per esperimenti che coinvolgono colture cellulari viventi per lunghi periodi di tempo
Microscopio a forza atomica per misure di forza e di topografia superficiale su scala nanometrica
Microscopio a forza atomica capace di lavorare in contact mode e non-contact mode per analisi su campioni di vario tipo.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio diretto in campo chiaro e fluorescenza per cellule e tessuti su vetrino.
Microscopio avanzato di ultima generazione per l’osservazione di materiali, piccoli animali, cellule in sistemi di coltura bi- e tridimensionale e
Microscopio per l'osservazione di compartimenti subcellulari come il nucleo cellulare, i mitocondri, le vescicole e di processi dinamici come la mo
DA UTILIZZARE PER ATTIVITA' DI RICERCA, PROVE, MISURAZIONI
CARL ZEISS LSM 510 META è un evoluto microscopio a fluorescenza che permette di focalizzare con estrema precisione un laser sul preparato, aumentan
Microscopio con testo inclinabile di 90° che permette di ingrandire ad alta risoluzione fino a 5000X.
Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) permette di ottenere immagini tridimensionali ad alta risoluzione
Lo studio della microstruttura dei materiali è di fondamentale importanza per acquisire informazioni su:
Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e fi
Permette di studiare la microstruttura di campioni in forma di polvere o massivo, cioè forma-distribuzione-dimensione-aggregazionedelle parti
Il microscopio elettronico a scansione (SEM) a pressione variabile (VP) o ambientale (E) FEI QUANTA 200 ad alte prestazioni é dotato di sorgente el
ZEISS EVO MA 10 è un microscopio a scansione elettronica (SEM) ad alta definizione utilizzabile in diversi campi d’applicazione con particolare int
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Microscopio a fluorescenza dalle potenzialità versatili che consente di lavorare in condizioni di sterilità in cappe a flusso laminare per la visua