Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.

Results: 506
Name
Description
Laboratory
Province

Il sistema HPLC-triplo MS permette la determinazione di diversi composti ricercati nelle acque per il consumo umano quali:

• PFAS

RN

Sistema automatizzato per la cattura di immagini di gel di elettroforesi, per applicazioni di biologia molecolare e analisi proteica

FC

Low pressure plasma systems for plasma cleaning, activation, etching and coating

MO

Misure di caratterizzazione elettrica su nanodispositivi con basso rumore e con possibilità di lavorare a temperatura variabile e in vuoto. 

MO

Permette la visualizzazione stereoscopica e l'interazione con oggetti tridimensionali e scenari sintetici attraverso l'utilizzo di occhiali a lenti

FC

Permette la visualizzazione stereoscopica e l'interazione con oggetti tridimensionali e scenari sintetici attraverso occhiali a lenti polarizzate c

FC

Sistema per il rilievo di una componente di velocità.COMPONENTI:                       

MO

Sistema di prova a dimensione reale per facciate ventilate per la verifica dell prestazioni energetiche ed acustiche

BO, RN

Piattaforme HW e SW per sistemi di localizzazione radio RTLS e radar, piattaforme per wireless sensor networks, etc.)

FC

Software per la simulazione termo-strutturale di componenti e sistemi meccanici.

MO

Strumenti informatici a supporto di valutazioni del ciclo di vita

RN

Misure intensimetriche in Laboratorio e in Opera.

FC

Lo strumento permette la misura simultanea di temperatura, pH, conducibilità, Ossigeno disciolto, Redox e l'esecuzione di Log multiparametrici

RN

Per il trattamento preliminare con ultrasuoni per facilitare le successive operazioni tecnologiche come ad esempio osmosi ed estrazioni

FC

Sistema per la crescita fisica e la deposizione di nanocluster metallici, compositi e semiconduttori (2-20 nm in diametro) preformati e selezionati

MO

Lo strumento consente:

MO