Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.

Results: 36
Name
Description
Laboratory
Province

3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.

FE

Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS)  e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A

MO

Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi

MO

Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.

MO

Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.

Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde

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Strumento per la determinazione di carbonio, idrogeno, azoto in biomasse

BO

Strumento per estrazioni

BO

Strumento per preparazione di campioni a microonde

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Sistema di elettroporazione flessibile e modulare per la trasfezione di ogni tipo di cellula, dalle cellule primarie, in sospensione e difficili da

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Si utilizza per determinare la frazione di olio in semi.

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Carlo Erba HRGC 5300 per analisi di acidi grassi;

Agilent Technologies 7820A CG System;

ThermoScientific TRACE 1300

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Gas cromatografo con spettrometro di massa a singolo quadrupolo.

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Gas cromatografo con spettrometro di massa a singolo quadrupolo.

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Strumenti per cromatografia liquida con detector UV-DAD.

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Il detector Low-Temperature Evaporative Light-Scattering Detection per HPLC è un rivelatore universale: la rivelazione è basata sulla propriet

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Incubatore agitatore con raffreddamento dotato di piattaforma universale e supporti per beute da 1 litro per colture liquide di batteri, lieviti e

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Sistema per studio di monostrati di molecole anfifiliche.

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Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.

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Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .

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Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.

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