Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Sistema per acquisizione di campi di velocità istantanei tridimensionali in fluidi in moto.COMPONENTI: &nb
Prove meccaniche di trazione/torsione
Modifica superficiale di materiali
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Analisi e caratterizzazione materiali
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.
Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.
caratterizzazione delle proprietà meccaniche delle superfici e dei rivestimenti
Apparato per la caratterizzazione del folding e misfolding di singole proteine, e dei meccanismi attraverso i quali singole biomolecole interagisco
Esperimenti in campo magnetico e sotto l'azione di campi em con frequenze sino a 20 GHz. Esperimenti a basse temperature.