Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Monitoraggio qualità aria: caratterizzazione e monitoraggio di Ioni inorganici (Cloruro, Nitrato, Solfato, Ammonio) e Composti organici non-refratt
monitoraggio qualità dell'aria: fotometro per la misura del coefficiente di assorbimento dell'aerosol atmosferico e della concentrazione equivalent
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Monitoraggio qualità aria: rilevazione e quantificazione di cationi e anioni inorganici idrosolubili
Monitoraggio qualità aria: misurazione di concentrazione in massa o numero di particelle nel particolato atmosferico (PM10, PM2.5, PM1, PM > 0,2
Monitoraggio qualità aria: auto-campionatore di particolato atmosferico (PM10 e PM2.5)
Separazione e determinazione quali-quantitativa di miscele di composti organici in campioni provenienti da processi di trattamento di reflui e fang
Separazione e determinazione quantitativa di miscele di composti organici in campioni provenienti da processi di trattamento di reflui e fanghi.
Monitoraggio qualità aria: campionatore ad alto volume di particolato atmosferico
Monitoraggio qualità aria: rilevazione e quantificazione di anidro-zuccheri (Levoglucosan, Mannosan, Galactosan) quali markers della combustione da
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.