Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.

Results: 36
Name
Description
Laboratory
Province

3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.

FE

Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS)  e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A

MO

Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi

MO

Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.

MO

Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.

Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde

MO

 

Centro di lavoro a 5 assi con parametri:

Asse \ ParametriCorsa di lavoroVelocità max.Accelerazione max.

Asse X

PC

Struttura a “T rovesciato”.

PC

Forno a convezione forzata di dimensioni interne 1,4 x 3,8 x 1,400 m3 per un volume utile di 7500 litri.

PC

Forno da laboratorio a muffola con convezione forzata per garantire una distribuzione ottimale della temperatura nel vano del forno.

PC

Forno Nabertherm a convezione con vano di lavoro di 900x650x650mm3, massima temperatura di lavoro 850°C, omogeneità della temperatura interna +-7°C

PC

Forno Tubolare da Laboratorio Nabertherm per attività di ricerca su schiume e spugne metalliche.

PC

Sistema per studio di monostrati di molecole anfifiliche.

MO

Robot da taglio a getto idro-abrasivo con controllo numerico con 5 assi controllati e intensificatore di pressione FLOW 9XV con pompante a doppio e

PC

Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.

MO

Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .

MO

Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.

MO

Microscopio digitale con piatto motorizzato su due assi con corsa di 100mm, velocità di posizionamento massima di 20mm/s e risoluzione 1um; Stativo

PC

Microscopio elettronico in trasmissione  con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento

MO

Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.

MO

Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.

MO