Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Viene utilizzato per effettuare prove di vita su ruote per uso industriale secondo metodica definita internamente.
Viene utilizzato per effettuare prove su ruote sensorizzate per uso industriale secondo metodica definita internamente.
Viene utilizzato per testare la portata dinamica di ruote e supporti per uso industriale , secondo quanto definito dalle norme internazionali ISO 2
Viene utilizzato per testare la portata dinamica di ruote e supporti per mobilio e comunità, secondo quanto definito dalle norme internazionali ISO
Viene utilizzato per effettuare la prova di collaudo dinamico con caduta da gradino, secondo quanto definito dalla norma EN 840-5:
Viene utilizzato per effettuare:
E' utilizzata per effettuare test di resistenza alla corrosione accelerata, eseguita secondo UNI ISO 9227, per verificare la qualità di trattamenti
Strumento per misure di fluorescena senza contatto, idoneo per rilevare presenza di sostanze organiche su superfici metalliche.
Dinamometro elettronico mobile per rilevazioni sforzi ergonomici, cario fino a 50kg, con software di acquisizione ed elaborazione dati memorizzati.
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.