E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
Microscopio a forza atomica capace di lavorare in contact mode e non-contact mode per analisi su campioni di vario tipo.
Analisi topografica e meccanica di superfici sulla scala nanometrica; nessuna necessità dicolorazione dei campioni; osservazione microscopica ad al
La Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione mediante
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio diretto in campo chiaro e fluorescenza per cellule e tessuti su vetrino.
Microscopio avanzato di ultima generazione per l’osservazione di materiali, piccoli animali, cellule in sistemi di coltura bi- e tridimensionale e
Microscopio per l'osservazione di compartimenti subcellulari come il nucleo cellulare, i mitocondri, le vescicole e di processi dinamici come la mo
DA UTILIZZARE PER ATTIVITA' DI RICERCA, PROVE, MISURAZIONI
CARL ZEISS LSM 510 META è un evoluto microscopio a fluorescenza che permette di focalizzare con estrema precisione un laser sul preparato, aumentan
Annesso allo strumento si aggiunge la possibilità ad accedere alla strumentazione necessaria per la preparazione dei campioni come l'ultramicrotomo
Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) permette di ottenere immagini tridimensionali ad alta risoluzione
Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e fi
Lo studio della microstruttura dei materiali è di fondamentale importanza per acquisire informazioni su:
Osservazione della microstruttura di materiali metallici, polimerici, ceramici, compositi, da costruzione
ZEISS EVO MA 10 è un microscopio a scansione elettronica (SEM) ad alta definizione utilizzabile in diversi campi d’applicazione con particolare int
Osservazione della microstruttura di materiali metallici, polimerici, ceramici, compositi, da costruzione
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Microscopio a fluorescenza dalle potenzialità versatili che consente di lavorare in condizioni di sterilità in cappe a flusso laminare per la visua
Consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre e film, per identificare