Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Consente di effettuare prove statiche (trazione, compressione, flessione, ecc.) e dinamiche (fatica, con frequenze di prova nominali fino a oltre 1
Il set è composto da n. 8 matite costruite in alluminio, ø 10 mm, lunghezza 146 mm, sulle quali vi è inserito il minerale, con testa appuntita.
Sistema di imaging cellulare automatico per cellule staminali, per estrazione di DNA e per estrazione di RNA.
Consente di effettuare rilievi di microdurezza (su campioni metallici e su rivestimenti) con scala Vickers e carichi tra 10 e 1000 g.
Modifica superficiale di materiali
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Zeiss Z1 AxioObserver è un microscopio a fluorescenza inversa per esperimenti che coinvolgono colture cellulari viventi per lunghi periodi di tempo
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio diretto in campo chiaro e fluorescenza per cellule e tessuti su vetrino.
Microscopio avanzato di ultima generazione per l’osservazione di materiali, piccoli animali, cellule in sistemi di coltura bi- e tridimensionale e
Microscopio per l'osservazione di compartimenti subcellulari come il nucleo cellulare, i mitocondri, le vescicole e di processi dinamici come la mo
DA UTILIZZARE PER ATTIVITA' DI RICERCA, PROVE, MISURAZIONI
CARL ZEISS LSM 510 META è un evoluto microscopio a fluorescenza che permette di focalizzare con estrema precisione un laser sul preparato, aumentan
Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) permette di ottenere immagini tridimensionali ad alta risoluzione
Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e fi