Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.
Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A
Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi
Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.
Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.
Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde
Videocamera professionale VR dotata di sei lenti fisheye in grado di acquisire immagini a 360° (risoluzione 7680 x 3840 pixels).
Sistema composto di due macchine: la prima, tramite l’impiego di uno specifico solvente estrae il bitume senza alterarlo o danneggiarlo; la seconda
Fessurimetri a filo stand-alone con datalogger integrato per la memorizzazione dei valori di spostamento e temperatura per la valutazione e il cont
Fotocamera reflex digitale professionale (DSLR), dotata di un sensore full frame (35 mm) da 24.5 megapixel.
Laser Scanner 3D a tempo di volo ad alta velocità (fino a 2.000.000 di punti acquisiti al secondo) con sistema di imaging sferico HDR integrato e V
Laser Scanner a tempo di volo che include compensatore biassiale, sistema di controllo e archiviazione dati, fotocamera con auto esposizione, piomb
Livello digitale per applicazioni quali il livellamento di precisione di superfici piane e in pendenza, l’identificazione della componente vertical
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.
Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.