Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.

Results: 42
Name
Description
Laboratory
Province

3He insert, temperature di lavoro da 300mK sino a 400K , campo magnetico sino a 7 Tesla. Campi di applicazione: Caratterizzazione di materiali.

FE

Il sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS)  e' costituito da una sorgente a doppio anodo Mg/A

MO

Sistema in Ultra-alto-vuoto per analisi di superfici ed interfacce tramite spettroscopia XPS, UPS, HREELS e LEED a bassa corrente dotato di sistemi

MO

Sistema per analisi chimica di superficie tramite X-Ray Photoemission Spectroscopy (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione.

MO

Analizzatore di impedenza di rete alle microonde.

Campi di applicazione: Telecomunicazioni e microonde

MO

Lo strumento e la tecnologia applicata consentono l’isolamento, o l’arricchimento, di  praticamente qualsiasi tipo cellulare, anche da sangue

FE,

Citofluorimetro a flusso da banco dotato di due sorenti luminose, un laser argon, raffreddato ad aria, con emissione a 488 nm, ed un laser rosso a

FE

Citofluorimetro e cell-sorter ad alte prestazioni, dotato di 4 sorgenti laser (488nm-blu, 633nm-rosso, 405nm-violetto, 375nm-nearUV), permette di a

FE

Citometro spettrale a 3 sorgenti laser (488nm-blu, 633nm-rosso, 405nm-violetto); permette di svolgere analisi utilizzando fino a 24 colori.

FE

Sistema per studio di monostrati di molecole anfifiliche.

MO

Il sistema MAGPIX è una piattaforma per saggi immunologici estremamente versatile, basata sull’utilizzo di biglie magnetiche lette da una CCD camer

FE,

Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.

MO

Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .

MO

Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.

MO

Strumentazione con finalità di ricerca e di diagnostica

FE

Lo strumento permette di ottenere informazioni relative alla morfologia o topografia superficiale a partire dallo zoom di aree molto grandi (un mm

FE

Realizzazione di attività di ricerca e diagnostica

E’ possibile osservare l’ultrastruttura di preparati biologici, la morfologia di nanoparticelle, l’analisi strutturale di zone difettive in materia

FE

Microscopio elettronico in trasmissione  con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento

MO