Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Zeiss Z1 AxioObserver è un microscopio a fluorescenza inversa per esperimenti che coinvolgono colture cellulari viventi per lunghi periodi di tempo
Microscopio a forza atomica per misure di forza e di topografia superficiale su scala nanometrica
Microscopio a forza atomica capace di lavorare in contact mode e non-contact mode per analisi su campioni di vario tipo.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Microscopio diretto in campo chiaro e fluorescenza per cellule e tessuti su vetrino.
Microscopio avanzato di ultima generazione per l’osservazione di materiali, piccoli animali, cellule in sistemi di coltura bi- e tridimensionale e
Microscopio per l'osservazione di compartimenti subcellulari come il nucleo cellulare, i mitocondri, le vescicole e di processi dinamici come la mo
DA UTILIZZARE PER ATTIVITA' DI RICERCA, PROVE, MISURAZIONI
CARL ZEISS LSM 510 META è un evoluto microscopio a fluorescenza che permette di focalizzare con estrema precisione un laser sul preparato, aumentan
Microscopio con testo inclinabile di 90° che permette di ingrandire ad alta risoluzione fino a 5000X.
Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) permette di ottenere immagini tridimensionali ad alta risoluzione
Lo studio della microstruttura dei materiali è di fondamentale importanza per acquisire informazioni su:
Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e fi
Permette di studiare la microstruttura di campioni in forma di polvere o massivo, cioè forma-distribuzione-dimensione-aggregazionedelle parti
Il microscopio elettronico a scansione (SEM) a pressione variabile (VP) o ambientale (E) FEI QUANTA 200 ad alte prestazioni é dotato di sorgente el
ZEISS EVO MA 10 è un microscopio a scansione elettronica (SEM) ad alta definizione utilizzabile in diversi campi d’applicazione con particolare int
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Microscopio a fluorescenza dalle potenzialità versatili che consente di lavorare in condizioni di sterilità in cappe a flusso laminare per la visua