Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Consente di effettuare prove statiche (trazione, compressione, flessione, ecc.) e dinamiche (fatica, con frequenze di prova nominali fino a oltre 1
Consente di effettuare rilievi di microdurezza (su campioni metallici e su rivestimenti) con scala Vickers e Knoop e carichi tra 10 e 1000 g.
Il sistema e' composto da un Fascio Ionico Focalizzato (FIB) e da un Microscopio Elettronico a scansione (SEM) combinati e confocali.
Microscopio a forza atomica capace di lavorare in contact mode e non-contact mode per analisi su campioni di vario tipo.
Sistema per microscopia a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM (Atomic Force Microscope) che STM (Scanning Tunneling Microscope) .
Microscopio a forza atomica (AFM) per lo studio di superfici e per la caratterizzazione meccanica di materiali biologici su scala nanometrica.
Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e fi
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre e film, per identificare
Microscopio ottico dotato di Epi-fluorescenza, Contrasto interferenziale (DIC, fase), 60x immersione in olio, telecamera CCD raffreddata.
Microscopio ottico avanzato per osservazione diretta a basso ed alto ingrandimento, su campioni anche di grandi dimensioni.
Sistema per microscopia STM (Scanning Tunneling Microscope) con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti.
Apparato per la caratterizzazione del folding e misfolding di singole proteine, e dei meccanismi attraverso i quali singole biomolecole interagisco
Esperimenti in campo magnetico e sotto l'azione di campi em con frequenze sino a 20 GHz. Esperimenti a basse temperature.
Realizzare prototipi rapidi con tecnologia FDM (polimeri di base, polimeri tecnici caricati, gomme).
Sistema di acquisizione a 16 canali con suite software HBM per analisi estensimetrica (strain gauge).
Deposizione PVD di film sottili a partire da target sia ceramici che metallici tramite RF e DC magnetron sputtering, sputtering reattivo (N2 atmosp
Sistema di litografia a fascio elettronico e microscopio elettronico a scansione.
Misure di caratterizzazione elettrica su nanodispositivi con basso rumore e con possibilità di lavorare a temperatura variabile e in vuoto.