E’ il catalogo dell’offerta di apparecchiature utilizzate per attività di ricerca, analisi e sperimentazione presenti nei Laboratori della Rete Alta Tecnologia.
Per ogni attrezzatura sono riportate caratteristiche, funzionalità, localizzazione e modalità di accesso.
Annesso allo strumento si aggiunge la possibilità ad accedere alla strumentazione necessaria per la preparazione dei campioni come l'ultramicrotomo
Microscopio elettronico a scansione da tavolo per supporto tecnologico a PMI per osservazioni microstrutturali e frattografiche di campioni metallu
Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) permette di ottenere immagini tridimensionali ad alta risoluzione
Lo studio della microstruttura dei materiali è di fondamentale importanza per acquisire informazioni su:
Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e fi
Osservazione della microstruttura di materiali metallici, polimerici, ceramici, compositi, da costruzione
Permette di studiare la microstruttura di campioni in forma di polvere o massivo, cioè forma-distribuzione-dimensione-aggregazionedelle parti
Il microscopio elettronico a scansione (SEM) a pressione variabile (VP) o ambientale (E) FEI QUANTA 200 ad alte prestazioni é dotato di sorgente el
SEM ad alta risoluzione per la caratterizzazione di materiali (prodotti alimentari, matrici biologiche, etc)
ZEISS EVO MA 10 è un microscopio a scansione elettronica (SEM) ad alta definizione utilizzabile in diversi campi d’applicazione con particolare int
- SEM: colonna Gemini con sorgente a emissione di campo tipo Schottky.
- FIB: colonna Canion con sorgente a ioni di Gallio.
Strumentazione con finalità di ricerca e di diagnostica
Osservazione della microstruttura di materiali metallici, polimerici, ceramici, compositi, da costruzione
Lo strumento permette di ottenere informazioni relative alla morfologia o topografia superficiale a partire dallo zoom di aree molto grandi (un mm
Realizzazione di attività di ricerca e diagnostica
E’ possibile osservare l’ultrastruttura di preparati biologici, la morfologia di nanoparticelle, l’analisi strutturale di zone difettive in materia
Per lo studio della morfologia e della composizione superficiale di materiali metallici
- tensione di lavoro: 80 kV, 200 kV
- risoluzione di punto: 0.183 nm (TEM), 0.132 nm (STEM)