Catalogue of the offering of equipment used for research, analysis and experimentation activities available in High Technology Network Laboratories. Each item of equipment is shown with its specifications, functional characteristics, location, and method of access.
Annesso allo strumento si aggiunge la possibilità ad accedere alla strumentazione necessaria per la preparazione dei campioni come l'ultramicrotomo
Microscopio elettronico a scansione da tavolo per supporto tecnologico a PMI per osservazioni microstrutturali e frattografiche di campioni metallu
Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) permette di ottenere immagini tridimensionali ad alta risoluzione
Attraverso le due sonde (elettroni secondari e retrodiffusi), consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e fi
Lo studio della microstruttura dei materiali è di fondamentale importanza per acquisire informazioni su:
Osservazione della microstruttura di materiali metallici, polimerici, ceramici, compositi, da costruzione
Permette di studiare la microstruttura di campioni in forma di polvere o massivo, cioè forma-distribuzione-dimensione-aggregazionedelle parti
Il microscopio elettronico a scansione (SEM) a pressione variabile (VP) o ambientale (E) FEI QUANTA 200 ad alte prestazioni é dotato di sorgente el
SEM ad alta risoluzione per la caratterizzazione di materiali (prodotti alimentari, matrici biologiche, etc)
ZEISS EVO MA 10 è un microscopio a scansione elettronica (SEM) ad alta definizione utilizzabile in diversi campi d’applicazione con particolare int
- SEM: colonna Gemini con sorgente a emissione di campo tipo Schottky.
- FIB: colonna Canion con sorgente a ioni di Gallio.
Range di ingrandimenti: da 8x a 1.000.000x.
Osservazione della microstruttura di materiali metallici, polimerici, ceramici, compositi, da costruzione
Lo strumento permette di ottenere informazioni relative alla morfologia o topografia superficiale a partire dallo zoom di aree molto grandi (u
Realizzazione di attività di ricerca e diagnostica
Per lo studio della morfologia e della composizione superficiale di materiali metallici
- tensione di lavoro: 80 kV, 200 kV
- risoluzione di punto: 0.183 nm (TEM), 0.132 nm (STEM)
Microscopio elettronico in trasmissione con enclosure anti vibrazione, sistemi ausiliari per elettronica e raffreddamento. Lo strumento
Microscopio a fluorescenza dalle potenzialità versatili che consente di lavorare in condizioni di sterilità in cappe a flusso laminare per la visua
Consente di analizzare materiali massivi, frammenti, fibre e film, per identificare